美國(guó)鈦淦tegam 1740微歐計(jì)20mΩ毫歐直流微電阻測(cè)試

TEGAM公司有超過15年的低電阻測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，并且已經(jīng)開發(fā)出一系列的高精度、高速的微歐和毫歐級(jí)電阻測(cè)試的測(cè)試儀器。TEGAM 1740微歐計(jì)型號(hào)使用正反向電流激勵(lì)源，這種雙向測(cè)試方式保證1740的測(cè)試結(jié)果不受接觸點(diǎn)熱電壓的影響，從而保證小電阻測(cè)試的精度。同時(shí)tegam1740微歐計(jì)配有RS-232和GPIB通訊接口，可以很容易的兼容到現(xiàn)有或者新的軟件系統(tǒng)當(dāng)中，適用于線纜、連接件、開關(guān)、無源器件、金屬焊點(diǎn)、搭接電阻等眾多需要精密低電阻測(cè)試的應(yīng)用。

鈦淦tegam 1740微歐計(jì)特點(diǎn)

鈦淦1740可編程微歐計(jì)內(nèi)部采用高靈敏度的低電壓測(cè)試電路，降低了對(duì)激勵(lì)源電流的要求。這意味著，再也不用擔(dān)心電流過大對(duì)被測(cè)件造成損壞。Tegam 1740內(nèi)部有高精度、高穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)電阻，測(cè)試過程中進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn)，隨時(shí)修正環(huán)境溫度和儀器溫度的變化，保證測(cè)試精度不受影響。

tegam 1740型微歐計(jì)和探針臺(tái)的組合，為微小尺寸被測(cè)件的直流低電阻測(cè)試，提供了高精度、界面友好的 解決方案。真空探針臺(tái)和測(cè)試探針可以解決微小尺寸器件的固定和接觸，1740型微歐計(jì)提供該應(yīng)用所需的高精度測(cè)試。如果用戶對(duì)測(cè)試量程有更高的要求，還可以選擇tegam 1750微歐計(jì)型號(hào)，測(cè)試分辨率將達(dá)到0.1微歐。

另有日置RM3545微歐計(jì)分辨率0.01μΩ、測(cè)量速度2.2ms，可替代TEGAM 1740/1750型，在高校、自動(dòng)化設(shè)備、電子制造企業(yè)廣泛應(yīng)用，歡迎來電咨詢。

美國(guó)鈦淦TEGAM 1740可編程精密微歐計(jì)滿量程電壓和最大引線電阻時(shí)參考電流對(duì)照表

詳細(xì)規(guī)格說明書 http://www.oznappies.com/download/201508/tegam1740_tegam1750.pdf

Tegam 1740/1750型微歐計(jì)是TEGAM主要的產(chǎn)品之一，被認(rèn)為是業(yè)內(nèi)速度最快、精度最高的微歐計(jì)，是需要高速低誤差制造過程的高速生產(chǎn)線、品質(zhì)工程師和產(chǎn)品開發(fā)工程師的首選。在高速元器件生產(chǎn)線、實(shí)驗(yàn)室精密測(cè)試，和航空、電力、汽車部件維修領(lǐng)域等有極高的知名度。與鈦淦tegam 1750型微歐計(jì)相比，tegam 1740沒有2 mΩ這個(gè)檔位，因此它的分辨率為1μΩ。